數(shù)字集成電路測(cè)試儀YB3117

更新時(shí)間：2024-09-06

產(chǎn)品型號(hào)：YB3117

產(chǎn)品報(bào)價(jià)：

產(chǎn)品特點(diǎn)：數(shù)字集成電路測(cè)試儀YB3117是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的儀器設(shè)備。集成電路測(cè)試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。集成電路測(cè)試技術(shù)是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術(shù)之一，因此，集成電路測(cè)試儀作為一個(gè)測(cè)試門類受到很多國(guó)家的高度重視。40年來(lái)，隨著集成電路發(fā)展到第四代，集成電路測(cè)試儀也從Z初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，

YB3117數(shù)字集成電路測(cè)試儀YB3117的詳細(xì)資料：

數(shù)字集成電路測(cè)試儀｜YB3117

數(shù)字集成電路測(cè)試儀｜YB3117分類

按集成電路分類：數(shù)字集成電路測(cè)試儀和模擬集成電路測(cè)試儀

按功能分類：集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀

按形式分類：便攜式集成電路測(cè)試儀和臺(tái)式集成電路測(cè)試儀

集成電路測(cè)試儀供能

1.測(cè)試模擬集成電路、數(shù)字集成電路以及數(shù)模混合集成電路。

2.測(cè)試IC器件的直流、交流及動(dòng)態(tài)參數(shù)。

3.可提供多達(dá)64管腳的模擬IC測(cè)試和32管腳的數(shù)字IC測(cè)試能力

數(shù)字集成電路測(cè)試儀｜YB3117產(chǎn)品說(shuō)明：

zui大測(cè)試引腳數(shù)100：
中文Windows操作平臺(tái)：
開放式自建芯片和數(shù)據(jù)庫(kù)。

	YB3117/YB3118
測(cè)試種類	可測(cè)試TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件
顯示方式	圖形顯示（時(shí)序顯示）、狀態(tài)顯示
被測(cè)芯片腳數(shù)	100腳以下
zui大輸出電流	每引腳100mA
測(cè)試速度	500kHz/Pin
中文Windows操作平臺(tái)
開放式自建芯片的數(shù)據(jù)庫(kù)
V-1特性曲線測(cè)試
工作溫度	0°C~30°C
工作濕度	75%
功耗	約45W（不包括供待測(cè)板的功耗）
工作電壓	220V±10%
YB3117配臺(tái)式電腦	YB3118配筆記本電腦
外形尺寸	90H×350W×350D（mm）
質(zhì)量	約4.7kg